X-ray reflectivity from sinusoidal surface relief gratings
| Verfasserangaben: | Thomas Geue, Oliver Henneberg, Ullrich Pietsch |
|---|---|
| ISSN: | 0023-4753 |
| Publikationstyp: | Wissenschaftlicher Artikel |
| Sprache: | Englisch |
| Jahr der Erstveröffentlichung: | 2002 |
| Erscheinungsjahr: | 2002 |
| Datum der Freischaltung: | 24.03.2017 |
| Quelle: | Crystal research and technology : journal of experimental and industrial crystallography. - ISSN 0023-4753. - 37 (2002), 7, S. 770 - 776 |
| Organisationseinheiten: | Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Physik und Astronomie |
| Name der Einrichtung zum Zeitpunkt der Publikation: | Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Physik |
