Identification of a buried single quantum well within surface structurized semiconductors using depth resolved x-ray grazing-incidence diffraction
Verfasserangaben: | Nora Darowski, K. Paschke, Ullrich Pietsch, K. H. Wang, Alfred Forchel, Tilo BaumbachORCiD, Ute Zeimer |
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Publikationstyp: | Wissenschaftlicher Artikel |
Sprache: | Englisch |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 1997 |
Erscheinungsjahr: | 1997 |
Datum der Freischaltung: | 24.03.2017 |
Quelle: | Journal of physics / D. - 30 (1997), L., S. 55 - 59 |
Organisationseinheiten: | Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Physik und Astronomie |
Name der Einrichtung zum Zeitpunkt der Publikation: | Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Physik |