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Strain relaxation in periodic arrays of Si/SiGe quantum wires determined by coplanar high-resolution x-ray diffrcation and grazing-incidence diffraction

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Verfasserangaben:Y. Zhuang, Václav Holý, Jochen Stangl, A. Darhuber, P. Mikulik, S. Zerlauth, F. Schäffler, Günther Bauer, Nora Darowski, Daniel Lübbert, Ullrich Pietsch
Publikationstyp:Wissenschaftlicher Artikel
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:1999
Erscheinungsjahr:1999
Datum der Freischaltung:24.03.2017
Quelle:Journal of physics / D. - 32 (1999), A., S. 224 - 229
Organisationseinheiten:Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Physik und Astronomie
Name der Einrichtung zum Zeitpunkt der Publikation:Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Physik
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