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Grazing-incidence diffraction strain analysis of a laterally-modulated multiquantum well system produced by focused-ion-beam implantation

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Verfasserangaben:Jörg Grenzer, Nora Darowski, Ullrich Pietsch, A. Daniel, Johann-Peter Reithmaier, Siegfried Rennon, Alfred Forchel
Publikationstyp:Wissenschaftlicher Artikel
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:2000
Erscheinungsjahr:2000
Datum der Freischaltung:24.03.2017
Quelle:Applied physics letters. - 77 (2000), 26, S. 4277 - 4279
Organisationseinheiten:Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Physik und Astronomie
Name der Einrichtung zum Zeitpunkt der Publikation:Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Physik
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