A comparison fo x-ray methods for structure refinement of Langmuir-Blodgett multilayers
- The possibilities and limits of structure refinement of Langmuir-Blodgett films by means of symmetrical reflection of X- rays are described using the example of a stearic acid multilayer. Three different techniques for the determiantion of the electron density profile from reflectivity data are compared; a Fourier method, a Patterson method, and model calculations. The important role of the a priori information for finding the besft structure model is outlined.
| Verfasserangaben: | Jürgen Reiche, Ullrich Pietsch, Hans-Peter Fink, Helge Lemmetyinen |
|---|---|
| Publikationstyp: | Wissenschaftlicher Artikel |
| Sprache: | Englisch |
| Jahr der Erstveröffentlichung: | 1992 |
| Erscheinungsjahr: | 1992 |
| Datum der Freischaltung: | 25.03.2017 |
| Quelle: | Acta Polymerica. - 43 (1992), S. 206 - 209 |
| Organisationseinheiten: | Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Physik und Astronomie |
| Name der Einrichtung zum Zeitpunkt der Publikation: | Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Physik |
