X-ray diffraction analysis of strain relaxation in free standing and buried GaAs/GaInAs/GaAs SQW lateral structures
| Verfasserangaben: | Nora Darowski, Ullrich Pietsch, K. H. Wang, Alfred Forchel, W. Shen, S. Kycia |
|---|---|
| Publikationstyp: | Wissenschaftlicher Artikel |
| Sprache: | Englisch |
| Jahr der Erstveröffentlichung: | 1998 |
| Erscheinungsjahr: | 1998 |
| Datum der Freischaltung: | 24.03.2017 |
| Quelle: | Thin solid films. - 236 (1998), S. 271 - 276 |
| Organisationseinheiten: | Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Physik und Astronomie |
| Name der Einrichtung zum Zeitpunkt der Publikation: | Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Physik |
