Comparative studies of fractal parameters of Si(100) surfaces measured by X-ray scattering and atomic force microscopy
Verfasserangaben: | Ralph Stömmer, C. R. Martin, Thomas Geue, H. Göbel, W. Hub, Ullrich Pietsch |
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Publikationstyp: | Wissenschaftlicher Artikel |
Sprache: | Englisch |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 1998 |
Erscheinungsjahr: | 1998 |
Datum der Freischaltung: | 24.03.2017 |
Quelle: | Advances in X-ray analysis. - 41 (1998) |
Organisationseinheiten: | Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Physik und Astronomie |
Name der Einrichtung zum Zeitpunkt der Publikation: | Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Physik |