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X-ray scattering from silicon surfaces

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Metadaten
Verfasserangaben:Ralph Stömmer, H. Göbel, W. Hub, Ullrich Pietsch
Publikationstyp:Wissenschaftlicher Artikel
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:1998
Erscheinungsjahr:1998
Datum der Freischaltung:24.03.2017
Quelle:Semiconductor international. - 1 (1998), S. 81 - 88
Organisationseinheiten:Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Physik und Astronomie
Name der Einrichtung zum Zeitpunkt der Publikation:Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Physik
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