Comparative studies of fractal parameters of Si(100) surfaces measured by X-ray scattering and atomic force microscopy
| Verfasserangaben: | Ralph Stömmer, C. R. Martin, Thomas Geue, H. Göbel, W. Hub, Ullrich Pietsch |
|---|---|
| Publikationstyp: | Wissenschaftlicher Artikel |
| Sprache: | Englisch |
| Jahr der Erstveröffentlichung: | 1998 |
| Erscheinungsjahr: | 1998 |
| Datum der Freischaltung: | 24.03.2017 |
| Quelle: | Advances in X-ray analysis. - 41 (1998) |
| Organisationseinheiten: | Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Physik und Astronomie |
| Name der Einrichtung zum Zeitpunkt der Publikation: | Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Physik |
