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Bauer, Günther
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Schäffler, F.
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Hesse, A.
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Schaffler, F.
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Vavra, I.
(1)
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Erscheinungsjahr
2003
(1)
2000
(1)
1999
(2)
Dokumenttyp
Wissenschaftlicher Artikel
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Sprache
Englisch
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Gehört zur Bibliographie
ja
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X-ray grazing-incidence study of inhomogeneous strain relaxation in Si/SiGe wires
(2003)
Pietsch, Ullrich
;
Hesse, A.
;
Zhuang, Y.
;
Holý, Vaclav
;
Stangl, Jochen
;
Zerlauth, S.
;
Schaffler, F.
;
Bauer, Günther
In-plane strain and shape analysis of Si/SiGe nanostructures by grazing incidence diffraction
(2000)
Zhuang, Y.
;
Pietsch, Ullrich
;
Stangl, Jochen
;
Holý, Vaclav
;
Darowski, Nora
;
Grenzer, Jörg
;
Zerlauth, S.
;
Schäffler, F.
;
Bauer, Günther
Strain relaxation in periodic arrays of Si/SiGe quantum wires determined by coplanar high-resolution x-ray diffrcation and grazing-incidence diffraction
(1999)
Zhuang, Y.
;
Holý, Václav
;
Stangl, Jochen
;
Darhuber, A.
;
Mikulik, P.
;
Zerlauth, S.
;
Schäffler, F.
;
Bauer, Günther
;
Darowski, Nora
;
Lübbert, Daniel
;
Pietsch, Ullrich
HRXRD and GID investigations of a self-organized SiGe quantum dot multilayer
(1999)
Holý, Václav
;
Darhuber, A.
;
Stangl, Jochen
;
Zerlauth, S.
;
Schäffler, F.
;
Bauer, Günther
;
Darowski, Nora
;
Lübbert, Daniel
;
Pietsch, Ullrich
;
Vavra, I.
1
bis
4
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