English
Home
Suchen
Browsen
Einreichen
Sitemap
Schließen
Organisationseinheiten
Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät
Institut für Informatik und Computational Science
Filtern
Volltext vorhanden
nein
(4)
Autor*in
Singh, Adit D. (4)
(entfernen)
Erscheinungsjahr
1999
(2)
1998
(2)
Dokumenttyp
Wissenschaftlicher Artikel (4)
(entfernen)
Sprache
Englisch (4)
(entfernen)
Gehört zur Bibliographie
ja
(4)
Institut
Institut für Informatik und Computational Science
(4)
4
Treffer
1
bis
4
Export
BibTeX
CSV
RIS
XML
50
10
20
50
100
Sortieren nach
Jahr
Jahr
Titel
Titel
Autor*in
Autor*in
Testability evaluation of sequential designs incorporating the multi-mode scannable memory element
(1999)
Singh, Adit D.
;
Sogomonyan, Egor S.
;
Gössel, Michael
;
Seuring, Markus
A scan based concrrent BIST approach for low cost on-line testing
(1998)
Sogomonyan, Egor S.
;
Singh, Adit D.
;
Gössel, Michael
A multi-mode scannable memory element for high test application efficiency and delay testing
(1999)
Sogomonyan, Egor S.
;
Singh, Adit D.
;
Gössel, Michael
A multi-mode scannable memory element for high test application efficiency and delay testing
(1998)
Sogomonyan, Egor S.
;
Singh, Adit D.
;
Gössel, Michael
1
bis
4
Verstanden ✔
Diese Webseite verwendet technisch erforderliche Session-Cookies. Durch die weitere Nutzung der Webseite stimmen Sie diesem zu.
Unsere Datenschutzerklärung finden Sie hier.