English
Home
Suchen
Browsen
Einreichen
Sitemap
Schließen
Organisationseinheiten
Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät
Institut für Informatik und Computational Science
Filtern
Volltext vorhanden
nein
(4)
Autor*in
Singh, Adit D. (4)
(entfernen)
Erscheinungsjahr
1999
(2)
1998
(2)
Dokumenttyp
Wissenschaftlicher Artikel
(4)
Sprache
Englisch
(4)
Gehört zur Bibliographie
ja
(4)
Institut
Institut für Informatik und Computational Science
(4)
4
Treffer
1
bis
4
Export
BibTeX
CSV
RIS
XML
100
10
20
50
100
Sortieren nach
Jahr
Jahr
Titel
Titel
Autor*in
Autor*in
Testability evaluation of sequential designs incorporating the multi-mode scannable memory element
(1999)
Singh, Adit D.
;
Sogomonyan, Egor S.
;
Gössel, Michael
;
Seuring, Markus
A scan based concrrent BIST approach for low cost on-line testing
(1998)
Sogomonyan, Egor S.
;
Singh, Adit D.
;
Gössel, Michael
A multi-mode scannable memory element for high test application efficiency and delay testing
(1999)
Sogomonyan, Egor S.
;
Singh, Adit D.
;
Gössel, Michael
A multi-mode scannable memory element for high test application efficiency and delay testing
(1998)
Sogomonyan, Egor S.
;
Singh, Adit D.
;
Gössel, Michael
1
bis
4
Verstanden ✔
Diese Webseite verwendet technisch erforderliche Session-Cookies. Durch die weitere Nutzung der Webseite stimmen Sie diesem zu.
Unsere Datenschutzerklärung finden Sie hier.