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(3)
Autor*in
Pietsch, Ullrich (3)
(entfernen)
Erscheinungsjahr
2001
(2)
1999
(1)
Dokumenttyp
Wissenschaftlicher Artikel
(3)
Sprache
Englisch
(3)
Gehört zur Bibliographie
ja
(3)
Institut
Institut für Physik und Astronomie
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X-ray reflectivity analysis of thin complex Langmuir-Blodgett films
(2001)
Poloucek, P.
;
Pietsch, Ullrich
;
Geue, Thomas
;
Symietz, Christian
;
Brezesinski, Gerald
The energy dispersive reflectometer at BESSY II : a challenge for thin film analysis
(2001)
Pietsch, Ullrich
;
Grenzer, Jörg
;
Geue, Thomas
;
Neißendorfer, Frank
;
Brezesinski, Gerald
;
Symietz, Christian
;
Möhwald, Helmuth
;
Gudat, Wolfgang
Chemical modification of Topaz surfaces
(1999)
Struth, Bernd
;
Decher, Gero
;
Schmitt, J.
;
Hofmeister, Wolfgang
;
Neißendorfer, Frank
;
Pietsch, Ullrich
;
Brezesinski, Gerald
;
Möhwald, Helmuth
1
bis
3
Verstanden ✔
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