Built-in test for circuits with scan based on reseeding of multiole polynomial linear feedback shift registers
Verfasserangaben: | Sybille Hellebrand, Janusz Rajski, Steffen Tarnick, Srikanth Venkatraman, Bernard Courtois |
---|---|
Publikationstyp: | Wissenschaftlicher Artikel |
Sprache: | Englisch |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 1995 |
Erscheinungsjahr: | 1995 |
Datum der Freischaltung: | 25.03.2017 |
Quelle: | IEEE transactions on computers. - 44 (1995), 2, S. 223 - 233 |
Organisationseinheiten: | Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Informatik und Computational Science |
Name der Einrichtung zum Zeitpunkt der Publikation: | Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Informatik |