Concurrently self-testing embedded checkers for ultra-reliable fault-tolerant systems
| Verfasserangaben: | Egor S. Sogomonyan, Michael GösselGND |
|---|---|
| Publikationstyp: | Wissenschaftlicher Artikel |
| Sprache: | Englisch |
| Jahr der Erstveröffentlichung: | 1996 |
| Erscheinungsjahr: | 1996 |
| Datum der Freischaltung: | 25.03.2017 |
| Quelle: | Proceedings / 14th IEEE VLSI Test Symposium. - Los Alamitos : IEEE Computer Society Press, 1996. - S. 138 - 144 |
| Organisationseinheiten: | Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Informatik und Computational Science |
| Name der Einrichtung zum Zeitpunkt der Publikation: | Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Informatik |
