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Built-in test for circuits with scan based on reseeding of multiole polynomial linear feedback shift registers

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Verfasserangaben:Sybille Hellebrand, Janusz Rajski, Steffen Tarnick, Srikanth Venkatraman, Bernard Courtois
Publikationstyp:Wissenschaftlicher Artikel
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:1995
Erscheinungsjahr:1995
Datum der Freischaltung:25.03.2017
Quelle:IEEE transactions on computers. - 44 (1995), 2, S. 223 - 233
Organisationseinheiten:Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Informatik und Computational Science
Name der Einrichtung zum Zeitpunkt der Publikation:Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Informatik
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