Code disjoint self-parity combinational circuits for self-testing, concurrent fault detection and parity scan design
Verfasserangaben: | Michael GösselGND, Egor S. Sogomonyan |
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Publikationstyp: | Wissenschaftlicher Artikel |
Sprache: | Englisch |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 1994 |
Erscheinungsjahr: | 1994 |
Datum der Freischaltung: | 25.03.2017 |
Quelle: | Proceedings / 12th IEEE VLSI test symposium. - Los Alamitos : IEEE Computer Soc. Press, 1994. - S. 151 - 157 |
Organisationseinheiten: | Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Informatik und Computational Science |
Name der Einrichtung zum Zeitpunkt der Publikation: | Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Informatik |