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Ultrafast reciprocal-space mapping with a convergent beam

  • A diffractometer setup is presented, based on a laser-driven plasma X-ray source for reciprocal-space mapping with femtosecond temporal resolution. In order to map out the reciprocal space, an X-ray optic with a convergent beam is used with an X-ray area detector to detect symmetrically and asymmetrically diffracted X-ray photons simultaneously. The setup is particularly suited for measuring thin films or imperfect bulk samples with broad rocking curves. For quasi-perfect crystalline samples with insignificant in-plane Bragg peak broadening, the measured reciprocal-space maps can be corrected for the known resolution function of the diffractometer in order to achieve high-resolution rocking curves with improved data quality. In this case, the resolution of the diffractometer is not limited by the convergence of the incoming X-ray beam but is solely determined by its energy bandwidth.

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Verfasserangaben:Daniel Schick, Roman Shayduk, Andre BojahrGND, Marc HerzogORCiDGND, Clemens von Korff Schmising, Peter Gaal, Matias BargheerORCiDGND
DOI:https://doi.org/10.1107/S0021889813020013
ISSN:0021-8898
Titel des übergeordneten Werks (Englisch):JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY
Verlag:WILEY-BLACKWELL
Verlagsort:HOBOKEN
Publikationstyp:Wissenschaftlicher Artikel
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:2013
Erscheinungsjahr:2013
Datum der Freischaltung:26.03.2017
Band:46
Ausgabe:10
Seitenanzahl:6
Erste Seite:1372
Letzte Seite:1377
Fördernde Institution:BMBF [03WKP03A]; Leibniz Graduate School ’Dynamics in New Light’ (DinL)
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