A scan based concrrent BIST approach for low cost on-line testing
| Verfasserangaben: | Egor S. Sogomonyan, Adit D. Singh, Michael GösselGND |
|---|---|
| Publikationstyp: | Wissenschaftlicher Artikel |
| Sprache: | Englisch |
| Jahr der Erstveröffentlichung: | 1998 |
| Erscheinungsjahr: | 1998 |
| Datum der Freischaltung: | 24.03.2017 |
| Quelle: | 4th IEEE international on-line testing workshop : proceedings. - IEEE Press, 1998. - S. 52 - 55 |
| Organisationseinheiten: | Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Informatik und Computational Science |
| Name der Einrichtung zum Zeitpunkt der Publikation: | Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Informatik |
