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Fault-tolerant self-dual circuits with error detection by parity- and group parity prediction

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Verfasserangaben:Vitalij Otscheretnij, Michael GösselGND, Vl. V. Saposhnikov, V. V. Saposhnikov
Publikationstyp:Wissenschaftlicher Artikel
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:1998
Erscheinungsjahr:1998
Datum der Freischaltung:24.03.2017
Quelle:4th IEEE international on-line testing workshop : proceedings. - IEEE Press, 1998. - S. 124 - 130
Organisationseinheiten:Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Informatik und Computational Science
Name der Einrichtung zum Zeitpunkt der Publikation:Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät / Institut für Informatik
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