TY  - CHAP
A1  - Gronau, Norbert
A1  - Vladova, Gergana
A1  - Thim, Christof
T1  - Umgang mit Wissen im interkulturellen Vergleich
BT  - Einführung und Leitfragen
T2  - Umgang mit Wissen im interkulturellen Vergleich : Beiträge aus Forschung und Unternehmenspraxis ; Acatech-Workshop, Potsdam, 20. Mai 2008
N2  - Die Bedeutung der Ressource Wissen für die Unternehmensentwicklung ist heutzutage unumstritten. Um wettbewerbsfähig bleiben zu können, müssen Unternehmen die Erzeugung, Teilung und systematische Nutzung von Wissen fördern. Dabei stehen sowohl die individuelle Wissensbasis (und damit jeder Mitarbeiter) als auch die kollektive Wissensbasis (und damit das ganze Unternehmen) im Vordergrund. Der Faktor Kultur gewinnt in diesem Zusammenhang zunehmend an Bedeutung: Er beeinflusst alle drei Ebenen des Wissensmanagements - Mensch, Organisation und Technologie. Neben den Besonderheiten der Organisationskultur und der Kultur unterschiedlicher Mitarbeitergruppen sind in international agierenden Unternehmen auch die spezifischen Merkmale der jeweiligen Landeskultur zu berücksichtigen. Gemeinsam mit dem Lehrstuhl für Wirtschaftsinformatik und Electronic Government der Universität Potsdam hat acatech im Mai 2008 einen Workshop mit Vertretern aus Wirtschaft, Politik und Wissenschaft zum Umgang mit Wissen im interkulturellen Vergleich veranstaltet. Vor diesem Hintergrund entstand der acatech diskutiert-Band "Umgang mit Wissen im interkulturellen Vergleich - Beiträge aus Forschung und Unternehmenspraxis". Darin enthalten sind Beiträge, die u. a. danach fragen, welche wechselseitigen Beziehungen zwischen Technik und Kultur bestehen, inwieweit Experten- und Wissensnetzwerke als interkulturelles Instrument zum Umgang mit Wissen geeignet sind, wie Unternehmen ihre Mitarbeiter auf Auslandseinsätze und die Begegnung mit fremden Kulturen vorbereiten können und welche Rolle Kommunikation als Methode des Wissenstransfers spielt.
Y1  - 2008
SN  - 978-3-8167-7822-6
VL  - 2008
SP  - 11
EP  - 25
PB  - Fraunhofer-IRB-Verl.
CY  - Stuttgart
ER  -