TY  - JOUR
A1  - Zhuang, Y.
A1  - Pietsch, Ullrich
A1  - Stangl, Jochen
A1  - Holý, Vaclav
A1  - Darowski, Nora
A1  - Grenzer, Jörg
A1  - Zerlauth, S.
A1  - Schäffler, F.
A1  - Bauer, Günther
T1  - In-plane strain and shape analysis of Si/SiGe nanostructures by grazing incidence diffraction
Y1  - 2000
ER  - 
TY  - JOUR
A1  - Zhuang, Y.
A1  - Schelling, Christoph
A1  - Stangl, Jochen
A1  - Penn, C.
A1  - Senz, S.
A1  - Schäffler, Friedrich
A1  - Roche, T.
A1  - Daniel, A.
A1  - Grenzer, Jörg
A1  - Pietsch, Ullrich
A1  - Bauer, Günther
T1  - Structural and optical properties of Si/Si{1-x}Ge{x} wires
Y1  - 2000
ER  -