@article{SinghSogomonyanGoesseletal.1999, author = {Singh, Adit D. and Sogomonyan, Egor S. and G{\"o}ssel, Michael and Seuring, Markus}, title = {Testability evaluation of sequential designs incorporating the multi-mode scannable memory element}, year = {1999}, language = {en} } @phdthesis{Seuring2000, author = {Seuring, Markus}, title = {Output space compaction for testing and concurrent checking}, url = {http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:kobv:517-0000165}, school = {Universit{\"a}t Potsdam}, year = {2000}, abstract = {In der Dissertation werden neue Entwurfsmethoden f{\"u}r Kompaktoren f{\"u}r die Ausg{\"a}nge von digitalen Schaltungen beschrieben, die die Anzahl der zu testenden Ausg{\"a}nge drastisch verkleinern und dabei die Testbarkeit der Schaltungen nur wenig oder gar nicht verschlechtern. Der erste Teil der Arbeit behandelt f{\"u}r kombinatorische Schaltungen Methoden, die die Struktur der Schaltungen beim Entwurf der Kompaktoren ber{\"u}cksichtigen. Verschiedene Algorithmen zur Analyse von Schaltungsstrukturen werden zum ersten Mal vorgestellt und untersucht. Die Komplexit{\"a}t der vorgestellten Verfahren zur Erzeugung von Kompaktoren ist linear bez{\"u}glich der Anzahl der Gatter in der Schaltung und ist damit auf sehr große Schaltungen anwendbar. Im zweiten Teil wird erstmals ein solches Verfahren f{\"u}r sequentielle Schaltkreise beschrieben. Dieses Verfahren baut im wesentlichen auf das erste auf. Der dritte Teil beschreibt eine Entwurfsmethode, die keine Informationen {\"u}ber die interne Struktur der Schaltung oder {\"u}ber das zugrundeliegende Fehlermodell ben{\"o}tigt. Der Entwurf basiert alleine auf einem vorgegebenen Satz von Testvektoren und die dazugeh{\"o}renden Testantworten der fehlerfreien Schaltung. Ein nach diesem Verfahren erzeugter Kompaktor maskiert keinen der Fehler, die durch das Testen mit den vorgegebenen Vektoren an den Ausg{\"a}ngen der Schaltung beobachtbar sind.}, language = {en} } @article{SeuringGoesselSogomonyan1998, author = {Seuring, Markus and G{\"o}ssel, Michael and Sogomonyan, Egor S.}, title = {Ein strukturelles Verfahren zur Kompaktierung von Schaltungsausgaben f{\"u}r online-Fehlererkennungen und Selbstests}, year = {1998}, language = {de} } @article{Seuring1999, author = {Seuring, Markus}, title = {Built-in self test mit multi-mode scannable memory elementen}, year = {1999}, language = {en} } @article{SeuringGoessel1999, author = {Seuring, Markus and G{\"o}ssel, Michael}, title = {A structural method for output compaction of sequential automata implemented as circuits}, year = {1999}, language = {en} } @article{SeuringGoessel1999, author = {Seuring, Markus and G{\"o}ssel, Michael}, title = {A structural approach for space compaction for sequential circuits}, year = {1999}, language = {en} } @book{SeuringGoessel1998, author = {Seuring, Markus and G{\"o}ssel, Michael}, title = {A structural approach for space compaction for sequential circuits}, series = {Preprint / Universit{\"a}t Potsdam, Institut f{\"u}r Informatik}, volume = {1998, 05}, journal = {Preprint / Universit{\"a}t Potsdam, Institut f{\"u}r Informatik}, publisher = {Univ.}, address = {Potsdam}, issn = {0946-7580}, pages = {16 Bl. : graph. Darst.}, year = {1998}, language = {en} } @article{SeuringGoesselSogomonyan1998, author = {Seuring, Markus and G{\"o}ssel, Michael and Sogomonyan, Egor S.}, title = {A structural approach for space compaction for concurrent checking and BIST}, year = {1998}, language = {en} } @book{SeuringGoesselSogomonyan1997, author = {Seuring, Markus and G{\"o}ssel, Michael and Sogomonyan, Egor S.}, title = {A structural approach for space compaction for concurrent checking and BIST}, series = {Preprint / Universit{\"a}t Potsdam, Institut f{\"u}r Informatik}, volume = {1997, 01}, journal = {Preprint / Universit{\"a}t Potsdam, Institut f{\"u}r Informatik}, publisher = {Univ. Potsdam}, address = {Potsdam [u.a.]}, issn = {0946-7580}, pages = {19 S. : Ill.}, year = {1997}, language = {en} }