@misc{BresselHerzogReich2019,
  author    = {Bressel, Lena and Herzog, Bernd and Reich, Oliver},
  title     = {Monte-Carlo simulations of light transport in dense materials},
  series = {Diffuse Optical Spectroscopy and Imaging},
  volume    = {11074},
  journal   = {Diffuse Optical Spectroscopy and Imaging},
  publisher = {SPIE},
  address   = {Bellingham},
  isbn      = {978-1-5106-2841-0},
  issn      = {0277-786X},
  doi       = {10.1117/12.2527076},
  pages     = {3},
  year      = {2019},
  abstract  = {Monte-Carlo calculations are carried out to simulate the light transport in dense materials. Focus lies on the calculation of diffuse light transmission through films of scattering and absorbing media considering additionally the effect of dependent scattering. Different influences like interaction type between particles, particle size, composition etc. can be studied by this program. Simulations in this study show major influences on the diffuse transmission. Further simulations are carried out to model a sunscreen film and study best compositions of this film and will be presented.},
  language  = {en}
}
@phdthesis{Erbe2004,
  author    = {Erbe, Andreas},
  title     = {Ellipsometrische Lichtstreuung als neue Methode zur Charakterisierung der Grenzfl{\"a}che von Kolloiden},
  url       = {http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:kobv:517-0001565},
  school      = {Universit{\"a}t Potsdam},
  pages     = {123},
  year      = {2004},
  abstract  = {Die ellipsometrische Lichtstreuung wird als eine neue, leistungsf{\"a}hige Methode zur Charakterisierung von Schichten um kolloidale Partikel vorgestellt. Theoretische Grundlage der Methode ist die Mie-Theorie der Lichtstreuung. Experimentell wurde die Polarisationsoptik eines Null-Ellipsometers in den Strahlengang eines Lichtstreuaufbaus eingebaut. Wie in der Reflexionsellipsometrie um den Brewsterwinkel herum erh{\"a}lt man in der ellipsometrischen Streuung einen Winkelbereich, in dem die Methode empfindlich auf Schichten an der Oberfl{\"a}che der Partikel ist. An verschiedenen Systemen wurde die Tauglichkeit der ellipsometrischen Streuung zur Charakterisierung von Schichten auf Partikeln demonstriert. So wurden Dicke und Brechungsindex einer thermosensitiven Schicht von Poly(N-isopropylacrylamid) auf einem Poly(methylmethacrylat)-Kern bestimmt. Damit ist es m{\"o}glich, experimentell den Schichtbrechungsindex und damit den Quellungsgrad zu bestimmen. Des Weiteren wurde der Einfluss der NaCl-Konzentration auf die Polyelektrolyth{\"u}lle von Poly(methylmethacrylat)-Poly(styrolsulfonat)-Blockcopolymer-Partikeln untersucht. Die Polyelektrolytketten liegen im hier untersuchten Beispiel nicht gestreckt vor. Als drittes wurde die Verteilung von niedermolekularen Ionen um elektrostatisch stabilisierte Poly(styrol)-Latexpartikel in Wasser untersucht. Hier wurde gezeigt, dass die beobachteten Schichtdicken und Schichtbrechungsindizes viel gr{\"o}ßer sind, als nach der klassischen Poisson-Boltzmann-Theorie zu erwarten ist. Des Weiteren wurde die Doppelbrechung von unilamellaren Lipidvesikeln bestimmt. Außerdem wurden Messungen der dynamische Lichtstreuung im Intensit{\"a}tsminimum der Ellipsometrie durchgef{\"u}hrt. Dabei wird ein Prozess mit einer Korrelationszeit, die unabh{\"a}ngig vom Streuvektor, aber abh{\"a}ngig von der verwendeten Wellenl{\"a}nge ist, sichtbar. Die Natur dieses Prozesses konnte hier nicht vollst{\"a}ndig gekl{\"a}rt werden.},
  language  = {de}
}